Ouvrage (Y Compris Édition Critique Et Traduction)
Année : 2020
Kathleen TORCK : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://uphf.hal.science/hal-03403049
Soumis le : mardi 26 octobre 2021-08:43:14
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:23
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03403049 , version 1
Citer
Smail Niar (Dir.). 2nd IEEE International Conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems. 2020. ⟨hal-03403049⟩
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